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FIB-SEM

Centre d'optique, photonique et laser, Local COP-00553
Centre d'optique, photonique et laser

Organisme subventionnaire: Fondation canadienne pour l'innovation (FCI)

Le microscope QUANTA-3D-FEG est un appareil multi-segments combinant les fonctions de microscopie électronique à balayage (SEM ou MEB), de gravure ionique (FIB) et de spectrométrie par dispersion d'énergie des rayons X (EDS). Les fonctions principales de cet appareillage sont d'observer, d’analyser et de graver la matière à l'échelle nanométrique. Le système d’imagerie MEB possède une résolution de l’ordre de la dizaine de nanomètres. Quant aux émetteurs et détecteurs de rayons X de type EDS, ils permettent l'analyse élémentaire de la composition sur les échantillons avec une résolution de quelques centaines de nanomètres. Comme option additionnelle, un module de déposition de platine permet de rendre un matériau non-conducteur initialement en matériau conducteur. Couplé à la source d’électrons pour l’observation, le module FIB peut graver la surface des matériaux ou les couches minces pour l’étude en profondeur de la stratification multicouches avec une très haute précision de l'ordre de quelques dizaines de nanomètres.

Fournisseur: FEI
Modèle: Quanta-3D-FEG
Mise en service: 2008

Description

Fonctions spécifiques

  • SEM : Résolution : 1,2 nm
  • SEM : Grandissement : 50X à 500 000X
  • SEM : Modes : matériaux conducteurs (Hi-Vac) et non-conducteurs (Low-Vac)
  • FIB : Analyse en profondeur (e.g.: dépôts de couches minces)
  • FIB : Résolution : 7 nm (imagerie) et 20 nm (gravure)
  • FIB : Canon à électron : 200 V à 30 kV, 0 à 200 nA
  • FIB : Canon à électron : 200 V à 30 kV, 0 à 200 nA
  • FIB : Source d'ion au Ga : 2 à 30 kV, 1 pA à 65 nA
  • FIB : Option : module de déposition par injection de gaz : platine
  • FIB : Détecteur : spectromètre de dispersion d'énergie des rayons X (EDS)

Champs d'expertise

  • Optique-photonique
  • Nanophotonique
  • Microfabrication
  • Microscopie d'électron à balayage et gravure de couches minces

Valeur ajoutée

Cet appareillage de dernière génération installé en salle blanche tire ses bienfaits lors de l’analyse des couches minces produites au laboratoire de couches minces et de microfabrication.

Références technologiques

Pour en savoir davantage sur cette technologie, veuillez consulter le site de FEI.

Coûts de location

Campus 165 $ / h
Hors campus académique 250 $ / h
Industries 375 $ / h

Légende : Le tarif horaire inclut le temps de l'opérateur.

Disponibilité

Du lundi au mercredi, sur réservation seulement.

Réserver cet équipement

Pour effectuer une réservation ou pour toute information concernant cet équipement, contactez:

Stéphan Gagnon
Technicien expert
stephan.gagnon@copl.ulaval.ca
418 656-2131 poste 411341

Centre d'optique, photonique et laser
Pavillon optique-photonique
2375, rue de la Terrasse, local 0302-C
Québec (Québec)  G1V 0A6

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