La ou les techniques utilisées pour un problème donné sont choisies en fonction du type d'information souhaitée (qualitative, quantitative, chimique), de la nature des matériaux (isolant ou conducteur électrique), de la résolution en profondeur souhaitée (1 couche atomique ou plusieurs), de la résolution latérale nécessaire (micromètre ou millimètre), de la morphologie de la surface (rugueuse ou plane) et de la sensibilité souhaitée (quelques ppm ou quelques %). Il est possible de réaliser des profils d'abondance élémentaire en fonction de la profondeur sur des distances de quelques dizaines à quelques centaines de nanomètres dans certains cas. Il est également possible de traiter des échantillons à haute température (500°C-700°C) ou à haute pression (plusieurs atmosphères) dans un réacteur approprié, sur chaque installation. Les systèmes sont équipés d'un sas pour introduction rapide des échantillons, sans dégradation du vide dans les chambres d'analyse. Les pressions de base dans les instruments sont de l'ordre de 2 à 5 x 10 -11 mbar pour l'un et de l'ordre de 4-5 x 10-10 mbar pour l'autre, ce qui permet la réalisation d'études fondamentales en science des surfaces.
Par ailleurs, le laboratoire possède une vaste expérience dans l'analyse de matériaux d'importance
industrielle et technologique : catalyseurs, matériaux mésoporeux, bois, papier, polymères, fibres, composites, aérosols, couches passives, alliages métalliques, semi-conducteurs, nanomatériaux, noirs de carbone, graphite, graphène., nanotubes de carbone etc....
AFM
Le LAS s'est également doté récemment d'un troisième instrument, un AFM/STM CPII de Veeco, fonctionnant dans l'air, avec modes contact, non contact, contact intermittent, image topographique, image de force latérale, image de phase, contraste magnétique, contraste électrostatique, et mode STM; une option permet l'imagerie en phase liquide en AFM. Deux platines de balayage sont disponibles : 100µm x 100µm (7,5µm en Z) et 5µm x 5µm (1,5µm en Z).