Fonctions spécifiques
- Appareillage multisegment : échantillons solides : organiques, inorgatiques, composites
- Appareillage multisegement : Analyse élémentaire : qualitative et quantitative
- Appareillage multisegement : Détection limite : 0,01 % en concentration atomique relative, tout dépendant de l'élément
- Appareillage multisegement : Analyse chimique : connaître le degré d'oxydation des éléments présents
- Appareillage multisegment : Imagerie chimique en parallèle
- Appareillage multisegment : Profil d'abondance en profondeur
- Appareillage multisegment : Quantité nécessaire : varie selon la nature de l'échantillon
- ESCA (XPS) - ESCALAB : Souce double : Magnésium et aluminium
- ESCA (XPS) - ESCALAB : Analyseur : hémisphérique de grand rayon
- ESCA (XPS) - ESCALAB - Détection monocanale
- ESCA (XPS) - ESCALAB : Résolution : 0.88 eV sur argent
- ESCA (XPS) - ESCALAB : Réacteur de haute température et de pressions intégrées
- SIMS (SIMSLAB) : Deux sources primaires : source argon et source gallium à balayage
- SIMS (SIMSLAB) : Quadripôle : grandes dimensions
- SIMS (SIMSLAB) : Gamme en masse : 1-800 unités de masse atomique (uma)
- SIMS (SIMSLAB) : Résolution en masse : 1 uma sur toute la gamme de masses
- SIMS (SIMSLAB) : Résolution spatiale : 100 µm (Ar+) et 1 µm (Ga+)
- SIMS (SIMSLAB) : l'hydrogène est détectable
- ISS (VG scientific) : Résolution : 1 % avec He 1000eV sur une surface d'or
- ASM (MICROLAB500) : Canon : type LEG 500
- ASM (MICROLAB500) : Énergie : 0,5 - 30 keV
- ASM (MICROLAB500) : Diamètre minimum du faisceau : 1 µm
- ASM (MICROLAB500) : Résolution en profondeur : 5nm
- ASM (MICROLAB500) : Résolution latérale : de l'ordre du 1µm
- ASM (MICROLAB500) : Domaine de température : -100 à 600°C en position d'analyse
- ASM (MICROLAB500) : Chambre de préparation et de déposition : par pulvérisation ou évaporation
Champs d'expertise
- Science des matériaux
- Caractérisation de surface
- Nanoscience et nanotechnologie
- Matériaux
- Imagerie 2D de base avec source Ga
- Expertise en SIMS sur les matériaux isolants électriquement
Valeur ajoutée
Quatre techniques disponibles dans la même installation : un échantillon peut être préparé, fabriqué et analysé par les quatre techniques sans revoir l’atmosphère, et ce, sans contamination.
Références technologiques
Pour en savoir davantage sur cette technologie, vous pouvez consulter les sites suivants :
Coûts de location
| | Membre du C3V et de la FSG | Membres académiques autres Facultés et Centre de recherche |
| Campus | 20 $ / h | 30 $ / h |
| Hors campus académique | | 50 $ / h |
| Industries | | 350 $ / h |
Disponibilité
En tout temps.
