Laboratoire d'analyse des surfaces,
Local
PLT-00545
Département de géologie et génie géologique
Organisme subventionnaire: Conseil de recherches en sciences naturelles et en génie du Canada (CRSNG)
La technique de caractérisation avancée possède le module ESCA (XPS) ainsi que trois détecteurs, soit AES, ISS et SIMS. Les deux détecteurs AES et ISS sont également disponibles sur cet instrument de génération plus ancienne, mais avec des performances plus limitées. Une particularité supplémentaire est le détecteur additionnel de type SIMS qui est la spectrométrie de masse des ions secondaires (Secondary Ion Mass Spectrometry); un faisceau d'ions (primaires) frappe la surface à analyser et déloge des ions (secondaires) dont la masse (plus précisément le rapport masse/charge) est mesurée par un spectromètre de masse de type quadripolaire. Cette technique est très sensible et permet dans certains cas une détection de l'ordre du ppm.
Fournisseur: VG Scientific
Modèle: ESCALAB MKII, SIMSLAB, MICROLAB 500
Mise en service: 1984
