Laboratoire d'analyse des surfaces,
Local
PLT-00545
Département de génie chimique
Organisme subventionnaire: Fondation canadienne pour l'innovation (FCI)
Cet appareillage permet la visualisation de la morphologie et du relief de la surface d’un matériau à l’échelle du nanomètre, à l’aide de la microscopie à force atomique «Atomic Force Microscopy» (AFM), pour tous les matériaux, et de la microscopie à effet tunnel (Scanning Tunnelling Microscopy) pour les matériaux électriquement conducteurs. Cette technique permet également de déterminer les propriétés de surface d’un matériau par la mesure de certaines forces entre la pointe de l’AFM et la surface. Le microscope est posé sur une table anti-vibration pour augmenter sa résolution. Plusieurs modes de balayage peuvent être mis en œuvre sur une multitude de matériaux de pointe (semi-conducteurs, verres, céramiques, polymères, métaux, nanocomposites, couches minces, membranes synthétiques et bien d’autres). C’est un instrument de choix en nanoscience et nanotechnologie. Cet instrument fonctionne en atmosphère normale; une option d’imagerie en phase liquide est disponible.
Fournisseur:
VEECO
Modèle:
CPII
Mise en service:
2006
