AFM/STM atmosphérique

Laboratoire d'analyse des surfaces, Local PLT-00545
Département de génie chimique

Organisme subventionnaire: Fondation canadienne pour l'innovation (FCI)

Cet appareillage permet la visualisation de la morphologie et du relief de la surface d’un matériau à l’échelle du nanomètre, à l’aide de la microscopie à force atomique «Atomic Force Microscopy» (AFM), pour tous les matériaux, et de la microscopie à effet tunnel (Scanning Tunnelling Microscopy) pour les matériaux électriquement conducteurs. Cette technique permet également de déterminer les propriétés de surface d’un matériau par la mesure de certaines forces entre la pointe de l’AFM et la surface. Le microscope est posé sur une table anti-vibration pour augmenter sa résolution. Plusieurs modes de balayage peuvent être mis en œuvre sur une multitude de matériaux de pointe (semi-conducteurs, verres, céramiques, polymères, métaux, nanocomposites, couches minces, membranes synthétiques et bien d’autres). C’est un instrument de choix en nanoscience et nanotechnologie. Cet instrument fonctionne en atmosphère normale; une option d’imagerie en phase liquide est disponible.

Fournisseur: VEECO
Modèle: CPII
Mise en service: 2006

Description

Fonctions spécifiques

  • Dimensions maximales de l'échantillon : 50 mm x 50 mm x 20 mm
  • Deux platines disponibles : 100 x 100 (7,5 µm hauteur max.) et 5 x 5 µm (haute résolution, 2,5 µm hauteur max.)
  • Module STM
  • Divers type de pointes AFM sont disponibles pour chaque mode de balayage, ainsi que d'autres pointes spécialisées
  • Modes de contact, de non-contact, de contact intermittent ("tapping mode"
  • Image de phase
  • Image de force magnétique
  • Image de force électrique (EFM)
  • Image de force latérale (LFM)
  • Imagerie en phase liquide

Champs d'expertise

  • Science des matériaux
  • Nanoscience et nanotechnologie
  • Non-miscibilité de mélanges polymériques
  • Étude morphologique de surfaces
  • Étude topographique de surfaces
  • Caractérisation de structures nanométriques

Valeur ajoutée

Technique complémentaire des analyses de surfaces : mise en évidence de défauts, de lacunes, de non-homogénéité de films et de revêtements.

Références technologiques

Pour en savoir davantage sur cette technologie, veuillez consulter le site de Veeco.

Coûts de location

  Membre du C3V et de la FSG Membres académiques autres Facultés et Centre de recherche
Campus 20 $ / h 30 $ / h
Hors campus académique   50 $ / h
Industries   350 $ / h

Disponibilité

En tout temps.

Réserver cet équipement

Pour effectuer une réservation ou pour toute information concernant cet équipement, contactez:

Bruno Gaillet
Professeur titulaire
bruno.gaillet@gch.ulaval.ca
418 656-2131 poste 403415

Département de génie chimique
Pavillon Adrien-Pouliot
1065, avenue de la Médecine, bureau 00545A
Québec (Québec)  G1V 0A6

Autres équipements qui pourraient vous intéresser