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Microscope électronique à balayage (MEB) ou Scanning Electron Microscope (SEM)

Laboratoire de microanalyse (LMA), Local PLT-00712
Département de géologie et de génie géologique

Organisme subventionnaire: Conseil de recherches en sciences naturelles et en génie

Cet appareillage permet de caractériser la surface et de déterminer la composition chimique d’un matériau à l’étude. Le microscope électronique à balayage (MEB) est une technique d’imagerie employée pour connaître la morphologie (forme, dimension, arrangement de particules, etc.), la topologie de surface (relief, texture, etc.), la composition chimique (ratios relatifs d’éléments chimiques) et fournir de précieuses informations cristallographiques (structure atomique). Cette technique permet d’analyser d'une multitude d’échantillons de toutes formes, compositions et tailles. Néanmoins, les échantillons étudiés doivent être stables sous vide. Pour les matériaux non conducteurs cette méthode caractérisation est destructive, car ils doivent être recouverts d’une mince couche conductrice de carbone ou d’un alliage de palladium au besoin. Dans certains cas, l’échantillon doit être séché.

Fournisseur: JEOL JSM-840A
Mise en service: 2019

Description

Fonctions spécifiques

  • Méthode non destructuve : matériaux conducteurs
  • Analyse quantitative
  • Grossissement allant jusqu'à 200 000X
  • Résolution maximale : 12 nm
  • Variation du voltage d’accélération : 200 à 40 000 V
  • Variation du courant de faisceau: 1 x 10-8 à 1 x 10-12 Amps
  • Tension d'accélération : 5 à 30 kV
  • Détecteurs : électrons secondaires ou «Secondary Electron (SE)», électrons rétrodiffusés ou «BackScattered Electron (BSE)» et spectromètre à dispersion d'énergie des rayons-X ou «Energy Dispersive Spectrometer #EDS#» de type PGT Avalon
  • Composition chimique : allant du carbone (C) à l'uranium (U)
  • Dimension maximale de l’échantillon: 100 mm
  • Distance de travail: minimale : 8 mm et maximale : 40 mm
  • Rotation de l’échantillon: 360°
  • Inclinaison de l'échantillon: 0-90°; dépendant de la taille de l’échantillon
  • Système d'acquisition numérique d'images digitalisées : Orion

Champs d'expertise

  • Science des matériaux
  • Science des surfaces

Valeur ajoutée

Bien que l’instrument que nous opérons date déjà de quelques années, nous conservons un contrat d’entretien complet par le manufacturier. Ainsi, chaque année, la colonne de l’instrument est démontée et nettoyée de manière à lui conserver sa résolution et son opérabilité optimale. De plus, au fil du temps nous y avons greffé un système digital d’acquisition d’images de même qu’un système d’analyse chimique des rayons-X par énergie dispersive.

Références technologiques

Pour en savoir davantage sur cette technologie, veuillez consulter le site de Jeol.

Coûts de location

Campus 60 $
Industries 155 $

Légende : tarif horaire incluant le professionnel de recherche

Disponibilité

En tout temps.

Réserver cet équipement

Pour effectuer une réservation ou pour toute information concernant cet équipement, contactez:

Guillaume Barré, Ph.D.
Responsable de travaux pratiques et de recherche
guillaume.barre.2@ulaval.ca
418 656-5083

Plateforme recherche fac. microscopie électronique-ana. surface
Pavillon Alexandre-Vachon, local 00712
1045, avenue de la Médecine
Québec (Québec)  G1V 0A6

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