Laboratoire de microanalyse

Le système d’ablation laser couplé à un spectromètre de masse à plasma induit (LA-ICPMS) permet l’analyse chimique et isotopique précise de différent minéraux et autre matériel solide inorganique. L’ICPMS triple quadrupole du département permet de supprimer les interférences de masse présentent dans des ICPMS avec un seul quadrupole par exemple. Le système d’ablation laser permet d’analyser des surfaces de quelques micromètres carrés de manière ponctuelle ou sous forme de lignes continues. L’instrument est optimisé pour analyser les éléments traces dans des sulfures et des silicates, ainsi que faire l’analyse isotopique du soufre (δ³⁴S) sur sulfure

La microsonde électronique permet l'analyse chimique élémentaire précise des minéraux, métaux, verres ou tout autre matériel inorganique. En mode ponctuel, le volume analysé est de l'ordre d'un micromètre cube. L'analyse peut se faire le long d'un profil ou selon un quadrillage. La microsonde permet aussi de faire l'acquisition de cartes de distribution d'éléments. L'instrument est en mesure de quantifier la majorité des éléments du tableau périodique, allant du bore à l'uranium, avec une limite de détection de quelques dizaines de ppm (parties par million) jusqu'à une concentration de 100%.

Le microscope électronique à balayage (MEB) permet l'observation des matériaux avec une résolution d'une dizaine de nanomètres. On peut y introduire des échantillons irréguliers d'une taille maximale de 5 cm. Les observations au MEB se font soit en mode 'électrons secondaires' qui permet une résolution maximale de la surface des matériaux, ou en mode 'électrons rétrodiffusés' qui permet d'obtenir une image de numéro atomique moyen des échantillons. Un système d'analyse chimique des rayons-x émis (EDS) permet de déterminer de manière qualitative ou semi-quantitative la composition chimique des matériaux sous observation.

La micro-fluorescence-X permet d'analyser mais principalement de faire des cartographies de la distribution des éléments dans les matériaux à une échelle plus grande que ne le permet la microsonde ou le MEB. Ainsi, il est possible de cartographier une surface pouvant atteindre une vingtaine de centimètres, avec un pas de 25 micromètres

Pour le LA-ICPMS, les échantillons doivent présenter une surface plate et peuvent être sous forme de lame mince ou de section polie.

Les échantillons pour l'analyse par microsonde électronique doivent être parfaitement plats; idéalement sous forme de section ou lames minces polies. La microsonde accepte des sections circulaires de 25 mm et 30 mm de diamètre ou encore des lames pétrographiques standard de 25 mm.

Les échantillons destinés au MEB ne nécessitent pas de préparation spéciale.

Pour les deux instruments, les échantillons doivent être stables sous vide et seront recouvertes d'une couche mince conductrice de carbone ou d'un alliage or/palladium au besoin.

Les échantillons pour les appareils de fluorescence-X peuvent être irréguliers, mais idéalement plats.

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